保护膜/胶带薄膜基材形态学观察技术

发布时间:2019-05-06


形态学观察不仅是对偏光膜的外部检查(偏光膜的外观十分关键)具有重要作用,而且在产品设计和缺陷分析方面也发挥着重要作用。 在形态观察中会用到各类显微镜(扫描电子显微镜 (SEM)、透射式电子显微镜 (TEM)、扫描探针显微镜 (SPM))以及激光显微分析 (LM) 和表面光度仪,这意味着可以观察尺寸可大到几十厘米,小到几毫微米。 还需考虑预加工方法,这样可使观察更有效。


聚合物分离膜结构分析
水处理中使用的聚合物分离膜经过多项分析后可辅助新产品的开发。 所用的技术包括扫描电子显微镜检查法 (SEM)、能量色散 X 射线分析 (EDX)、傅立叶变换红外光谱学 (FT-IR) 及一系列表面分析技术,如扫描探针显微术 (SPM) 及膜表面电位测定法。 也可采用这些评估技术调查污染源,此外,此类技术也有助于故障排除及类似任务。